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晶圆级芯片封装探针头/测试座

晶圆级芯片封装探针头是指晶圆级芯片尺寸封装(Wafer Level Chip Scale Package,WLCSP)测试中使用的探针头。它是连接WLCSP器件与自动测试设备(ATE)的重要环节。其主要作用是在芯片制程测试中,实现与WLCSP器件的电气连接,从而对芯片进行功能测试、参数测量等,以确保芯片符合质量标准和性能要求。
产品特点

• 间距:≥130um

• 针长:≥2.15mm

• 电流:≥0.5-3A

• 多引脚,多工位测试

• 可实现Kelvin测试

• 可选陶瓷&工程塑料

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