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存储测试座

存储测试座是用于存储芯片（如DRAM、NAND Flash等）测试的专用接口组件，其核心特点是通过导电胶（Conductive Elastomer）替代传统金属探针或插座端子，实现与芯片引脚的电气连接。

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产品特点

• 间距：≥0.35mm

• 短信号路径

• 低接触电阻：<100mΩ

• 高针数量：≤9,000针

• 卓越的接触稳定性

• 锡球无损伤

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