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高速同轴测试座

高速同轴测试插座是专为半导体芯片高频信号测试设计的专用测试插座，与同轴探针共同组成同轴结构，满足芯片的阻抗匹配，达到最佳的信号传输完整度。

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产品特点

• 特殊绝缘材料

• 同轴结构间距：≥0.35mm

• Insert loss S21：45-80GHz@-1dB

• Return loss S11：45-80GHz@-10dB

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