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同轴测试探针

同轴测试探针是一种专为高频信号测试设计的特种探针,通过特殊的结构与测试座共同组成同轴结构(内导体 + 绝缘层 + 外屏蔽墙)实现低损耗、低失真的信号传输,广泛应用于高速数字电路等测试。
产品特点

• 同轴结构间距:≥0.35mm

• Insert loss S21:45-80GHz@-1dB

• Return loss S11:45-80GHz@-10dB

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